Chroma 19311 series電池芯脈沖測試儀 

Chroma 19311 series電池(chi)芯(xin)脈(mo)沖測試儀 主要(yao)特色(se)：

• 高可輸出6kV脈沖測試 (依待測物的電容量決定)
• 可設定的脈沖間隔時間 30ms ~ 3000ms
• 八種判定功能:
  - 面積比較
  - 面積差比較
  - 顫動量偵測 (接觸檢查)
  - 二次微分偵測
  - *電壓峰值
  - 第三電壓峰值
  - 波峰比
  - 波峰差比
• 接觸檢查
• 崩潰電壓分析模式 (BDV Mode)
• 高取樣率(200MHz)
• 支援大25通道掃描測試 (19311-10搭配A190362選購)
• 英文/繁中/簡中操作介面
• 支援USB隨身碟
  - 波形、測試條件/結果儲存
  - 畫面擷取
  - 記憶體資料備份
• 圖形化彩色顯示
• 標配LAN、USB、RS232控制介面

Chroma 19311 series電(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)芯(xin)(xin)脈沖(chong)測(ce)試儀(yi) ;電(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)芯(xin)(xin)脈沖(chong)測(ce)試儀(yi)是(shi)專門針對(dui)尚未(wei)注(zhu)入(ru)電(dian)(dian)解液的(de)鉛酸(suan)電(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)芯(xin)(xin)施加高壓(ya)脈沖(chong)來檢(jian)測(ce)正負極板之間(jian)的(de)絕緣品(pin)質(zhi)。 19311系列擁(yong)有高6kV的(de)脈沖(chong)輸出電(dian)(dian)壓(ya)、四線式的(de)電(dian)(dian)壓(ya)量(liang)測(ce)與200MHz的(de)高速取樣(yang)率對(dui)電(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)芯(xin)(xin)進行脈沖(chong)測(ce)試，使用者(zhe)可依需求(qiu)選擇單(dan)通道測(ce)試儀(yi)(19311)或多通道掃描測(ce)試儀(yi)( 19311-10)。

19311-10機型具(ju)備10個通道，可(ke)利用掃描測(ce)(ce)試的方(fang)式做多(duo)(duo)通道切換輸出(chu)檢測(ce)(ce)，單機多(duo)(duo)可(ke)檢測(ce)(ce)9個電池(chi)芯(xin)(xin)。搭配A190362掃描治具(ju)，多(duo)(duo)可(ke)支援25通道，同時(shi)檢測(ce)(ce)24個電池(chi)芯(xin)(xin)。 19311-10機型可(ke)快速對多(duo)(duo)個電池(chi)芯(xin)(xin)做掃描測(ce)(ce)試，此優勢大幅節省測(ce)(ce)試時(shi)間及(ji)人(ren)力成(cheng)本，適合(he)應用在生產(chan)線上來提(ti)高產(chan)能。

在鉛(qian)酸電(dian)(dian)池(chi)尚(shang)未注入電(dian)(dian)解液前，對(dui)鉛(qian)酸電(dian)(dian)池(chi)芯做高壓(ya)脈沖測(ce)試的(de)(de)主(zhu)要目的(de)(de)是(shi)(shi)為了檢(jian)測(ce)電(dian)(dian)池(chi)芯里(li)正負(fu)極(ji)板之間的(de)(de)絕緣距離(li)與品質(zhi)、隔離(li)膜是(shi)(shi)否存在、以及正負(fu)極(ji)板之間是(shi)(shi)否有短路，借(jie)以找出劣(lie)質(zhi)或(huo)不良的(de)(de)電(dian)(dian)池(chi)芯。因(yin)此(ci)，使用(yong)脈沖測(ce)試的(de)(de)檢(jian)測(ce)方式可以提升(sheng)鉛(qian)酸電(dian)(dian)池(chi)芯的(de)(de)品質(zhi)。

Chroma 19311系(xi)列可(ke)透過內(nei)部電感與電池芯(xin)的(de)諧振(zhen)波形(xing)來分析電池芯(xin)的(de)絕緣品(pin)質差異。檢測(ce)的(de)判定功能(neng)共(gong)有8種:面積(ji)比較(jiao)(Area)、面積(ji)差比較(jiao)(Diff-Area)、顫(zhan)動量偵測(ce)(Flutter)、二階微分偵測(ce)(Laplacian)、*電壓(ya)峰(feng)值判定(V1)、第三電壓(ya)峰(feng)值判定(V3)、波峰(feng)比(Peak Ratio)及波峰(feng)差比(ΔPeak %)。

  脈沖測(ce)試  

脈沖測(ce)試是(shi)將一(yi)個(ge) "非(fei)破壞(huai)性"、短暫且低能量的(de)脈沖電(dian)壓施(shi)加在(zai)(zai)(zai)鉛酸(suan)電(dian)池(chi)芯上。當施(shi)加脈沖測(ce)試時，由(you)于19311/19311-10的(de)內部有(you)一(yi)個(ge)諧振電(dian)感，所以電(dian)池(chi)芯會與(yu)內部電(dian)感產生(sheng)諧振。將測(ce)試的(de)諧振波??形(xing)加以分析(xi)或(huo)與(yu)樣(yang)品的(de)諧振波形(xing)進(jin)行(xing)比對來判斷出鉛酸(suan)電(dian)池(chi)芯是(shi)否(fou)為(wei)良品。對尚未注(zhu)入電(dian)解液的(de)鉛酸(suan)電(dian)池(chi)芯做脈沖測(ce)試，主要是(shi)為(wei)了在(zai)(zai)(zai)注(zhu)入電(dian)解液之前(qian)發(fa)現(xian)鉛酸(suan)電(dian)池(chi)芯是(shi)否(fou)有(you)絕緣不良或(huo)是(shi)隔離膜不存在(zai)(zai)(zai)的(de)問(wen)題。在(zai)(zai)(zai)開(kai)關打開(kai)后，鉛酸(suan)電(dian)池(chi)芯與(yu)內部電(dian)感諧振波形(xing)的(de)電(dian)壓峰值(zhi)衰減狀態代表著(zhu)絕緣品質(zhi)的(de)好壞(huai)。

  八種(zhong)判定(ding)功能  

面積比較 (Area)

面(mian)(mian)積(ji)比(bi)較(jiao)可用來檢測(ce)鉛酸電(dian)(dian)池(chi)芯(xin)的(de)(de)(de)(de)正(zheng)(zheng)負極板(ban)之(zhi)間(jian)是否絕緣(yuan)不(bu)良或隔(ge)離(li)膜(mo)不(bu)存在。面(mian)(mian)積(ji)比(bi)較(jiao)是將測(ce)試的(de)(de)(de)(de)波(bo)形總(zong)(zong)(zong)(zong)面(mian)(mian)積(ji)與(yu)樣(yang)品的(de)(de)(de)(de)波(bo)形總(zong)(zong)(zong)(zong)面(mian)(mian)積(ji)做差異比(bi)較(jiao)，總(zong)(zong)(zong)(zong)面(mian)(mian)積(ji)的(de)(de)(de)(de)差異表(biao)現出了電(dian)(dian)池(chi)芯(xin)絕緣(yuan)程度的(de)(de)(de)(de)好壞。當電(dian)(dian)池(chi)芯(xin)正(zheng)(zheng)負極板(ban)之(zhi)間(jian)的(de)(de)(de)(de)絕緣(yuan)不(bu)良或是隔(ge)離(li)膜(mo)不(bu)存在時，在足夠的(de)(de)(de)(de)電(dian)(dian)場強度/電(dian)(dian)壓下會(hui)造成(cheng)放電(dian)(dian)，瞬間(jian)的(de)(de)(de)(de)能量釋放導致波(bo)形瞬間(jian)快速衰減(jian)， 所以測(ce)試的(de)(de)(de)(de)波(bo)形總(zong)(zong)(zong)(zong)面(mian)(mian)積(ji)會(hui)比(bi)樣(yang)品的(de)(de)(de)(de)波(bo)形總(zong)(zong)(zong)(zong)面(mian)(mian)積(ji)小(xiao)。

面積差比較 (Differential Area)
面積差(cha)比(bi)較可用來檢測(ce)待測(ce)物電(dian)容(rong)(rong)(rong)量的(de)(de)差(cha)異。面積差(cha)比(bi)較是(shi)測(ce)試的(de)(de)波形(xing)與(yu)(yu)樣品(pin)的(de)(de)波形(xing)不(bu)重疊的(de)(de)面積所(suo)占的(de)(de)比(bi)例(li)，此比(bi)例(li)的(de)(de)大(da)小代表著待測(ce)物的(de)(de)電(dian)容(rong)(rong)(rong)量與(yu)(yu)樣品(pin)的(de)(de)電(dian)容(rong)(rong)(rong)量的(de)(de)差(cha)異，當電(dian)容(rong)(rong)(rong)量越(yue)大(da)波形(xing)諧振的(de)(de)頻率會(hui)越(yue)低，電(dian)容(rong)(rong)(rong)量越(yue)小波形(xing)諧振的(de)(de)頻率越(yue)高。

顫動量偵測 (Flutter)
顫動量偵測(ce)(ce)可以用來做接(jie)觸(chu)檢查。顫動量偵測(ce)(ce)是利(li)用一階(jie)微分的(de)計算方式計算出波形所產生的(de)總(zong)量，由于當(dang)沒有碰(peng)觸(chu)好或是沒有接(jie)到待測(ce)(ce)物做測(ce)(ce)試時，電容量會(hui)比有接(jie)到待測(ce)(ce)物時還要小很多，所以波形諧振的(de)頻率(lv)會(hui)非常(chang)高，導致(zhi)波形的(de)總(zong)量變大，因此可利(li)用此特性來做接(jie)觸(chu)檢查的(de)判斷。

二次微分偵測 (Laplacian)
二次(ci)微(wei)分偵測(ce)可以用來偵測(ce)較小(xiao)的(de)(de)放(fang)電(dian)。二次(ci)微(wei)分偵測(ce)是利用二次(ci)微(wei)分的(de)(de)計算(suan)方式，找出在脈沖測(ce)試的(de)(de)過程中是否有(you)因為發(fa)生(sheng)較小(xiao)的(de)(de)放(fang)電(dian)，所造成測(ce)試波形發(fa)生(sheng)的(de)(de)快速變(bian)化或快速轉折(zhe)。

*電壓峰值 (V1)
諧振波形中的(de)*個電(dian)壓(ya)峰(feng)值。當(dang)電(dian)池芯正負極板之(zhi)間的(de)絕緣不(bu)良(liang)或是隔離膜不(bu)存在(zai)時，在(zai)足(zu)夠的(de)電(dian)場強度/電(dian)壓(ya)下會造(zao)成放電(dian)，會導(dao)致(zhi)*個電(dian)壓(ya)峰(feng)值比(bi)樣品的(de)*個電(dian)壓(ya)峰(feng)值低。

第三電壓峰值 (V3)
諧振波形中的第三個電(dian)壓(ya)(ya)峰值(zhi)。當(dang)電(dian)池芯(xin)(xin)正負極板之間的絕緣(yuan)不良(liang)或是隔(ge)離膜(mo)不存在時，在足夠的電(dian)場(chang)強度/電(dian)壓(ya)(ya)下會(hui)造(zao)成放電(dian)，能(neng)量的釋放會(hui)導致第三個電(dian)壓(ya)(ya)峰值(zhi)的電(dian)壓(ya)(ya)比(bi)良(liang)品(pin)低。當(dang)電(dian)池芯(xin)(xin)的絕緣(yuan)品(pin)質較(jiao)差時，因為能(neng)量損失的較(jiao)快也(ye)較(jiao)多(duo)，也(ye)會(hui)導致第三個電(dian)壓(ya)(ya)峰值(zhi)的電(dian)壓(ya)(ya)比(bi)良(liang)品(pin)低。

波峰比 (Peak Ratio)
波(bo)(bo)(bo)(bo)峰(feng)(feng)比(bi)(bi)是用來(lai)檢測鉛酸電(dian)(dian)池芯(xin)正(zheng)負(fu)極(ji)板之間的(de)絕緣品(pin)質(zhi)。波(bo)(bo)(bo)(bo)峰(feng)(feng)比(bi)(bi)是波(bo)(bo)(bo)(bo)形(xing)的(de)第(di)五個(ge)電(dian)(dian)壓(ya)峰(feng)(feng)值(zhi)(zhi)與第(di)三個(ge)電(dian)(dian)壓(ya)峰(feng)(feng)值(zhi)(zhi)的(de)電(dian)(dian)壓(ya)比(bi)(bi)例，當(dang)電(dian)(dian)池芯(xin)的(de)等效并(bing)聯電(dian)(dian)阻(zu)(Rp)較(jiao)小或(huo)絕緣的(de)品(pin)質(zhi)較(jiao)差時，因為(wei)能(neng)量(liang)損耗的(de)較(jiao)多、較(jiao)快，導(dao)致第(di)五個(ge)電(dian)(dian)壓(ya)峰(feng)(feng)值(zhi)(zhi)變得更小，所以(yi)絕緣品(pin)質(zhi)較(jiao)差的(de)波(bo)(bo)(bo)(bo)峰(feng)(feng)比(bi)(bi)會比(bi)(bi)絕緣品(pin)質(zhi)較(jiao)好的(de)波(bo)(bo)(bo)(bo)峰(feng)(feng)比(bi)(bi)更小。波(bo)(bo)(bo)(bo)峰(feng)(feng)比(bi)(bi)的(de)大小表現出電(dian)(dian)池芯(xin)正(zheng)負(fu)極(ji)板之間絕緣品(pin)質(zhi)的(de)狀態。

波峰差比 (ΔPeak %)
波(bo)峰(feng)(feng)差(cha)比是(shi)用(yong)來(lai)檢(jian)測鉛(qian)酸電池芯正負極(ji)板(ban)之間的(de)(de)絕(jue)(jue)(jue)緣品(pin)(pin)(pin)(pin)質(zhi)(zhi)是(shi)否接(jie)近樣品(pin)(pin)(pin)(pin)的(de)(de)絕(jue)(jue)(jue)緣品(pin)(pin)(pin)(pin)質(zhi)(zhi)。波(bo)峰(feng)(feng)差(cha)比為(wei)(wei)測試(shi)波(bo)形(xing)的(de)(de)波(bo)峰(feng)(feng)比與樣品(pin)(pin)(pin)(pin)波(bo)形(xing)的(de)(de)波(bo)峰(feng)(feng)比的(de)(de)差(cha)異，利(li)用(yong)比??較的(de)(de)方式可以(yi)(yi)篩出絕(jue)(jue)(jue)緣品(pin)(pin)(pin)(pin)質(zhi)(zhi)接(jie)近樣品(pin)(pin)(pin)(pin)絕(jue)(jue)(jue)緣品(pin)(pin)(pin)(pin)質(zhi)(zhi)的(de)(de)產品(pin)(pin)(pin)(pin)。當(dang)待測物(wu)(wu)的(de)(de)絕(jue)(jue)(jue)緣品(pin)(pin)(pin)(pin)質(zhi)(zhi)與樣品(pin)(pin)(pin)(pin)的(de)(de)絕(jue)(jue)(jue)緣品(pin)(pin)(pin)(pin)質(zhi)(zhi)一(yi)樣時，因為(wei)(wei)測試(shi)波(bo)形(xing)的(de)(de)波(bo)峰(feng)(feng)比與樣品(pin)(pin)(pin)(pin)波(bo)形(xing)的(de)(de)波(bo)峰(feng)(feng)比相同，所以(yi)(yi)波(bo)峰(feng)(feng)差(cha)比為(wei)(wei)0。當(dang)待測物(wu)(wu)的(de)(de)絕(jue)(jue)(jue)緣品(pin)(pin)(pin)(pin)質(zhi)(zhi)低于樣品(pin)(pin)(pin)(pin)的(de)(de)絕(jue)(jue)(jue)緣品(pin)(pin)(pin)(pin)質(zhi)(zhi)時，因為(wei)(wei)測試(shi)波(bo)形(xing)的(de)(de)波(bo)峰(feng)(feng)比會比樣品(pin)(pin)(pin)(pin)波(bo)形(xing)的(de)(de)波(bo)峰(feng)(feng)比小，所以(yi)(yi)波(bo)峰(feng)(feng)差(cha)比為(wei)(wei)負數(shu)，表示待測物(wu)(wu)的(de)(de)絕(jue)(jue)(jue)緣品(pin)(pin)(pin)(pin)質(zhi)(zhi)比樣品(pin)(pin)(pin)(pin)差(cha)。

  產品應用  

接觸檢查 Contact Check
接(jie)(jie)觸(chu)檢(jian)(jian)(jian)查功能利用(yong)諧振頻(pin)率(lv)的(de)(de)差(cha)異來檢(jian)(jian)(jian)測(ce)是(shi)否有連接(jie)(jie)到待(dai)測(ce)物(wu)。由于當沒(mei)有碰觸(chu)好(hao)或(huo)是(shi)沒(mei)有接(jie)(jie)到待(dai)測(ce)物(wu)做測(ce)試時(shi)，電容量會比有接(jie)(jie)待(dai)測(ce)物(wu)時(shi)還要(yao)小很多，所以波形諧振的(de)(de)頻(pin)率(lv)會變(bian)高，并可利用(yong)此(ci)頻(pin)率(lv)差(cha)異做檢(jian)(jian)(jian)測(ce)。使用(yong)者可依各自的(de)(de)需求對接(jie)(jie)觸(chu)檢(jian)(jian)(jian)查的(de)(de)靈(ling)敏度做調整，可將(jiang)百分比的(de)(de)界線提高來增加接(jie)(jie)觸(chu)檢(jian)(jian)(jian)查的(de)(de)靈(ling)敏度或(huo)是(shi)將(jiang)百分比的(de)(de)界線降低來減少接(jie)(jie)觸(chu)檢(jian)(jian)(jian)查的(de)(de)靈(ling)敏度。

崩潰電壓分析 Breakdown Voltage ( B.D.V)
19311 Series具有崩潰電(dian)壓(ya)分析功能(neng)，可(ke)設定起始(shi)電(dian)壓(ya)與結束(shu)電(dian)壓(ya)，利(li)用(yong)電(dian)壓(ya)爬升過(guo)程偵(zhen)(zhen)測波(bo)形面積(ji)比(bi)(Area) 、二階微(wei)分偵(zhen)(zhen)測(Laplacian) 及波(bo)峰比(bi)(Peak Ratio)是否超過(guo)設定的限制，測試(shi)電(dian)池(chi)芯大可(ke)承受的脈(mo)沖測試(shi)電(dian)壓(ya)。研究人(ren)員可(ke)利(li)用(yong)此功能(neng)對鉛(qian)酸電(dian)池(chi)芯進行分析與研究，及制定制造(zao)生產(chan)時脈(mo)沖測試(shi)的檢測電(dian)壓(ya)。

10/25 通道掃描測試
19311-10 單機有10個(ge)(ge)通(tong)道可(ke)進行(xing)掃描測(ce)(ce)試，多可(ke)以一次(ci)連續測(ce)(ce)試9個(ge)(ge)電池芯。搭配Scan Box(A190362)，可(ke)以擴增通(tong)道數至25個(ge)(ge)通(tong)道一次(ci)多可(ke)連續測(ce)(ce)試24個(ge)(ge)鉛(qian)酸(suan)電池芯。

Screenshot 畫面擷取功能
操作者可以(yi)利用快捷鍵(jian)擷(xie)取操作當(dang)下螢(ying)幕上(shang)所顯示的(de)畫(hua)面(mian)，顯示畫(hua)面(mian)的(de)截圖的(de)會儲存于(yu)插置在19311上(shang)的(de)USB 隨身硬(ying)碟(die)。

Export 資料匯出功能
操作者(zhe)可(ke)以利用Export功能將(jiang)每(mei)一(yi)次測(ce)試(shi)的(de)數據結果(guo)匯出并儲存于(yu)插置(zhi)在19311/19311-10上(shang)的(de)USB 隨身硬碟(USB flashdrive)。操作者(zhe)亦可(ke)針對每(mei)一(yi)次的(de)測(ce)試(shi)結果(guo)進(jin)行數據分析(xi)。儲存檔案格式為CSV（Comma Separated Values）。

Chroma 19311 series電池芯(xin)脈沖測(ce)試(shi)儀(yi)