供(gong)應Chroma 63202E-150-200 可(ke)編程直流電子負(fu)載，額定(ding)功(gong)率(lv): 2kW, 3kW, 4kW, 5kW, 6kW, 8kW, 10kW, 12kW, 15kW, 18kW, 20kW, 24kW 電壓(ya)范(fan)圍(wei): 150V, 600V, 1,200V 電流范(fan)圍(wei):Z高達2,000A 定(ding)電流、定(ding)電阻(zu)、定(ding)電壓(ya)及定(ding)功(gong)率(lv)操(cao)作模式 主(zhu)/從并聯控制，并聯數量(liang)高達10臺，Z大功(gong)率(lv)可(ke)達240kW
供(gong)應Chroma 63200E 可編程直流電子負載，額定(ding)(ding)功(gong)率: 2kW, 3kW, 4kW, 5kW, 6kW, 8kW, 10kW, 12kW, 15kW, 18kW, 20kW, 24kW 電壓范圍: 150V, 600V, 1,200V 電流范圍:Z高達2,000A 定(ding)(ding)電流、定(ding)(ding)電阻(zu)、定(ding)(ding)電壓及定(ding)(ding)功(gong)率操作模(mo)式 主/從并(bing)聯(lian)控制，并(bing)聯(lian)數量(liang)高達10臺，Z大功(gong)率可達240kW
致茂(mao)Chroma 63123A 直流電(dian)子負(fu)(fu)載(zai)6310A系(xi)列可模(mo)擬各種(zhong)動(dong)態負(fu)(fu)載(zai)狀(zhuang)態，使用(yong)(yong)者透過(guo)編輯負(fu)(fu)載(zai)電(dian)壓、負(fu)(fu)載(zai)電(dian)流、負(fu)(fu)載(zai)的(de)上(shang)升/下降率、電(dian)流準(zhun)位(wei)、持續(xu)時間等參數(shu)(shu)來編輯負(fu)(fu)載(zai)波形，測(ce)試(shi)(shi)參數(shu)(shu)及狀(zhuang)態的(de)儲(chu)(chu)存功(gong)能多達100組，系(xi)統(tong)可根據自動(dong)測(ce)試(shi)(shi)需(xu)求，隨時從儀器內的(de)儲(chu)(chu)存單元EEPROM中呼叫出來使用(yong)(yong)。
致茂Chroma 63112A 直流電子負載(zai) Chroma 63112A 直流電子負載(zai)具有(you)自我診斷系(xi)統(tong)設計，可自行維(wei)護(hu)儀器的(de)日(ri)常使用，6310A系(xi)列(lie)還具有(you)過(guo)功率、過(guo)電流、過(guo)溫度(du)保(bao)護(hu)及過(guo)電壓、正負極(ji)反向告警功能，可大幅提高產(chan)品可靠性，是(shi)工程測(ce)(ce)試及自動測(ce)(ce)試系(xi)統(tong)整合(he)得(de)以(yi)信(xin)賴的(de)產(chan)品。
Chroma 63108A 直流電(dian)(dian)子負載(zai) 6310A系列可(ke)模擬(ni)各種動態(tai)負載(zai)狀態(tai)，使(shi)用(yong)者透過編輯負載(zai)電(dian)(dian)壓、負載(zai)電(dian)(dian)流、負載(zai)的上(shang)升/下降率、電(dian)(dian)流準位、持(chi)續時間等參數(shu)來編輯負載(zai)波形，測(ce)(ce)試參數(shu)及狀態(tai)的儲存(cun)功能多達100組，系統可(ke)根(gen)據(ju)自動測(ce)(ce)試需求，隨時從儀(yi)器(qi)內的儲存(cun)單元EEPROM中呼(hu)叫出來使(shi)用(yong)。
供應Chroma 63106A 直(zhi)流電(dian)(dian)(dian)(dian)子(zi)(zi)負(fu)(fu)載 6310A系列電(dian)(dian)(dian)(dian)子(zi)(zi)負(fu)(fu)載目前提供8款負(fu)(fu)載模(mo)(mo)組(zu)(zu)，功率(lv)從(cong)(cong)30W到(dao)1200W不等(deng)；電(dian)(dian)(dian)(dian)流可從(cong)(cong)0.5mA到(dao) 240A；電(dian)(dian)(dian)(dian)壓(ya)量測可從(cong)(cong)0.5mV到(dao)500V。每個(ge)模(mo)(mo)組(zu)(zu)采隔離(li)與地(di)浮接方式(shi)，避(bi)免造(zao)成短路(lu)回路(lu)，每一負(fu)(fu)載模(mo)(mo)組(zu)(zu)均具有兩段式(shi)電(dian)(dian)(dian)(dian)流和電(dian)(dian)(dian)(dian)壓(ya)量測檔，主 /從(cong)(cong)介面(mian)的設計可同步執(zhi)行多組(zu)(zu)電(dian)(dian)(dian)(dian)子(zi)(zi)負(fu)(fu)載模(mo)(mo)組(zu)(zu)拉載的應用(yong)，此(ci)負(fu)(fu)載可在定電(dian)(dian)(dian)(dian)流、定電(dian)(dian)(dian)(dian)壓(ya)、定功率(lv)與定電(dian)(dian)(dian)(dian)阻工作(zuo)模(mo)(mo)式(shi)下(xia)操作(zuo)
供應Chroma 63105A 直流電(dian)(dian)(dian)子負(fu)載可編程(cheng)直流電(dian)(dian)(dian)子負(fu)載主要應用于多路(lu)(lu)或單路(lu)(lu)輸出的AC/DC電(dian)(dian)(dian)源、多路(lu)(lu)或單路(lu)(lu)的 DC/DC輸出變換器(qi)、充電(dian)(dian)(dian)器(qi)及(ji)(ji)電(dian)(dian)(dian)源類電(dian)(dian)(dian)子元件(jian)性能測(ce)試(shi)，對工程(cheng)師(shi)在設計研(yan)發、生產線(xian)測(ce)試(shi)及(ji)(ji)品(pin)(pin)保的產品(pin)(pin)檢測(ce)作業上提(ti)供快速有效的測(ce)試(shi)方案(an)。
供應Chroma 63103A 直流電(dian)(dian)子負(fu)載(zai)系(xi)列(lie)(lie)可編(bian)程(cheng)直流電(dian)(dian)子負(fu)載(zai)主要(yao)應用于多路(lu)(lu)或單路(lu)(lu)輸(shu)出(chu)的(de)AC/DC電(dian)(dian)源、多路(lu)(lu)或單路(lu)(lu)的(de) DC/DC輸(shu)出(chu)變換器、充(chong)電(dian)(dian)器及電(dian)(dian)源類電(dian)(dian)子元件(jian)性能測試，對工程(cheng)師在設計研發、生產線測試及品保(bao)的(de)產品檢測作(zuo)業上提(ti)供快速有(you)效(xiao)的(de)測試方案。6310A系(xi)列(lie)(lie)采模組(zu)化設計，使用者可將選購之不(bu)同負(fu)載(zai)功率的(de)模組(zu)放進系(xi)統主機框，透過前控(kong)制(zhi)板的(de)鍵盤(pan)、RS232
Chroma 63102A 直(zhi)流(liu)電子負(fu)載(zai) 6310A系列(lie)可模擬(ni)各種動(dong)態(tai)負(fu)載(zai)狀(zhuang)態(tai)，使(shi)(shi)用(yong)者透過編(bian)輯負(fu)載(zai)電壓、負(fu)載(zai)電流(liu)、負(fu)載(zai)的(de)(de)上升/下降率、電流(liu)準位、持(chi)續時(shi)間等參數來(lai)編(bian)輯負(fu)載(zai)波形，測試參數及狀(zhuang)態(tai)的(de)(de)儲存功能多達100組，系統可根據自動(dong)測試需求，隨時(shi)從儀器內(nei)的(de)(de)儲存單元EEPROM中呼叫出(chu)來(lai)使(shi)(shi)用(yong)。
致茂Chroma 63101A 直(zhi)流電(dian)(dian)子負(fu)(fu)(fu)(fu)載(zai)可模擬各種動(dong)態(tai)負(fu)(fu)(fu)(fu)載(zai)狀態(tai)，使用者(zhe)透過(guo)編(bian)輯(ji)負(fu)(fu)(fu)(fu)載(zai)電(dian)(dian)壓、負(fu)(fu)(fu)(fu)載(zai)電(dian)(dian)流、負(fu)(fu)(fu)(fu)載(zai)的上升/下降率、電(dian)(dian)流準位(wei)、持續時(shi)間等參(can)數來(lai)編(bian)輯(ji)負(fu)(fu)(fu)(fu)載(zai)波形，測試參(can)數及狀態(tai)的儲存功(gong)能(neng)多達100組，系統可根據(ju)自動(dong)測試需求，隨時(shi)從儀器內的儲存單(dan)元EEPROM中呼(hu)叫(jiao)出來(lai)使用。
