供應致茂Chroma 19036繞線元件電氣安規掃描分析儀 

主要特色：

• 五合一安規掃描分析儀 
  (交流耐壓、直流耐壓、絕緣電阻、層間短路、 直流電阻)
• 耐壓測試(Hi-pot) 
  - 5kVac / 6kVdc 
  - HSCC 高速接觸檢查
• 絕緣電阻測試(IR) 
  - zui大 5kV
• 繞線元件脈沖測試 (IWT) 
  -脈沖測試高取樣率(200MHz)
• 直流電阻測試 
  - 10通道四線直流電阻測試 
  -Δ型/Y型馬達繞線電阻計算
• 支援zui大40通道掃描測試
• 繁中 / 簡中 / 英文操作介面
• USB波形儲存& 畫面擷取功能
• 圖形化彩色顯示
• 標準LAN, USB, RS232介面
• GFI人體保護電路

• 供應致茂Chroma 19036繞線元件電氣安規掃描分析儀為業界*結合(he)脈(mo)沖(chong)測(ce)試(shi)(shi)，耐壓、絕緣電(dian)(dian)阻與直(zhi)流電(dian)(dian)阻量(liang)測(ce)于(yu)單(dan)機(ji)的繞線(xian)(xian)元(yuan)(yuan)件(jian)電(dian)(dian)氣安規掃描分析儀(yi)，擁有5kVac/6kVdc高壓輸出、5kV絕緣電(dian)(dian)阻、6kV層間短路脈(mo)沖(chong)電(dian)(dian)壓與四線(xian)(xian)式直(zhi)流電(dian)(dian)阻量(liang)測(ce)。符(fu)合(he)繞線(xian)(xian)元(yuan)(yuan)件(jian)測(ce)試(shi)(shi)需求且提供多通(tong)道掃描測(ce)試(shi)(shi)，單(dan)機(ji)10通(tong)道輸出可達成一次多顆掃描測(ce)試(shi)(shi)，節(jie)省測(ce)試(shi)(shi)時間及人力(li)成本。

  繞線元(yuan)件(jian)的測試(shi)項目包(bao)含AC/DC耐壓(ya)(ya)測試(shi)、IR絕緣(yuan)電(dian)阻測試(shi)、繞線元(yuan)件(jian)脈(mo)沖測試(shi)(IWT)及(ji)直(zhi)流電(dian)阻(DCR)。將(jiang)以上各項測試(shi)整合于19036繞線元(yuan)件(jian)電(dian)氣(qi)安規(gui)掃描分析儀(yi)，可(ke)(ke)針對馬達、變壓(ya)(ya)器、電(dian)熱絲、電(dian)磁閥等相關繞線產品(pin)(pin)進行安規(gui)測試(shi)，讓繞線元(yuan)件(jian)生產廠(chang)商及(ji)使用者在(zai)品(pin)(pin)質(zhi)驗(yan)證時，不但擁有可(ke)(ke)靠的測試(shi)品(pin)(pin)質(zhi)，能更有效率為產品(pin)(pin)品(pin)(pin)質(zhi)把關。

  線(xian)(xian)圈自體絕緣不(bu)(bu)良(liang)通(tong)常是造成線(xian)(xian)圈于(yu)使用環境(jing)中(zhong)發生層(ceng)間(jian)短(duan)路、跨(kua)線(xian)(xian)短(duan)路、出腳短(duan)路之(zhi)根源(yuan)(yuan)。其形(xing)成原因(yin)可能源(yuan)(yuan)于(yu)初始(shi)設計不(bu)(bu)良(liang)、加工制(zhi)程(cheng)不(bu)(bu)良(liang)，或(huo)絕緣材料(liao)之(zhi)劣(lie)化等所(suo)引起，故在電氣安規測(ce)試(shi)(shi)制(zhi)程(cheng)中(zhong)加入(ru)線(xian)(xian)圈層(ceng)間(jian)短(duan)路測(ce)試(shi)(shi)，即可多(duo)組繞(rao)組一次掃(sao)描(miao)測(ce)試(shi)(shi)完成，進(jin)一步的提升繞(rao)線(xian)(xian)元件(jian)品質。

  19036結合(he)層(ceng)間短路(lu)測(ce)試(shi)功能，具備6kV脈沖電(dian)壓，擁有(you)(you)波形(xing)(xing)面(mian)積比較、波形(xing)(xing)差面(mian)積比較、波形(xing)(xing)顫動偵(zhen)測(ce)(Flutter)及波形(xing)(xing)二階微分偵(zhen)測(ce)(Laplacian)等判(pan)定(ding)，提供線圈自體絕緣不良(liang)以及電(dian)感量確認之有(you)(you)效的檢測(ce)方法。

  19036設計四線直(zhi)流(liu)電阻量(liang)測接口，包含(han)Drive 與 Sense并符合耐(nai)壓(ya)規格，可(ke)提供10通(tong)道(dao)的四線直(zhi)流(liu)電阻量(liang)測與溫度補償功能。另可(ke)同時搭配16通(tong)道(dao)掃描盒zui多可(ke)達到40通(tong)道(dao)掃描測試 。

  19036提(ti)供高速接(jie)觸檢查(HSCC)功(gong)能，利用直接(jie)繞(rao)線電(dian)阻(zu)檢查快(kuai)速掃(sao)描確認多個繞(rao)組連接(jie)是(shi)否(fou)正常，解決(jue)繞(rao)線元件接(jie)觸不(bu)良而導致(zhi)測試失敗的問題。

  馬達測(ce)試標準如UL 1004-1，需(xu)求高功率(lv)的(de)安(an)(an)規(gui)綜合測(ce)試儀(yi)。Chroma 19036其(qi)具有(you)輸出(chu)及量測(ce)AC100mA/DC 20mA的(de)能力。對于漏電(dian)(dian)流較大或(huo)大型設備電(dian)(dian)氣安(an)(an)規(gui)測(ce)試的(de)使用者，高功率(lv)的(de)耐壓測(ce)試與其(qi)他安(an)(an)規(gui)測(ce)試整合于一臺綜合測(ce)試儀(yi)，將為(wei)產線及品(pin)保驗證帶來zui大的(de)效益(yi)，500VA的(de)設計也(ye)符合IEC/UL對輸出(chu)功率(lv)的(de)要求。

  量測技術

• 耐壓測試 ? FLASHOVER DETECTION 電氣閃絡偵測 ARC 
  19036 與Chroma 其他安規測(ce)(ce)試(shi)系列儀(yi)器同樣具(ju)有(you) Flashover偵測(ce)(ce)功能。Flashover是絕緣材料內部或(huo)(huo)表面因 高電界產(chan)生電氣放電，待測(ce)(ce)物(wu)失去原有(you)之絕緣特性，形 成暫態或(huo)(huo)非連續性放電，導(dao)致碳化導(dao)電通路產(chan)生或(huo)(huo)產(chan)品(pin) 傷害。若只以漏電流(liu)判定則無法(fa)檢出(chu)不(bu)良，須以測(ce)(ce)試(shi)電 壓或(huo)(huo)漏電流(liu)之變化率判定檢出(chu)不(bu)良。因此Flashover偵測(ce)(ce) 為高壓測(ce)(ce)試(shi)*的(de)檢視項目(mu)之一(yi)。

  

  脈沖測試 
  所謂的『繞線元件脈沖測試』基本上是以一『非破壞性』、高速、低能量之電壓脈沖施加在待測物上，再藉由分析／比對待測物良品與不良品之 等效波形以達到判定良否之目的。繞線元件脈沖測試主要功能乃在早期發現繞線元件中各種潛在之缺陷，例如：層間短路、電暈電弧或甚至是不 易發覺之部分放電等。 四種判定模式 
  1.波形面積比較 (AREA SIZE) 
  2.波形差面積比較 (DIFFERENTIAL AREA) 
  3.波形顫動偵測 (FLUTTER DETECTION) 
  4.波形二階(jie)微(wei)分偵測 (LAPLACIAN DETECTION), 以二階(jie)微(wei)分演算，有(you)效偵測出因電氣放電造成之波形不(bu)連續(xu)現象(xiang)。

  

  DCR 直流電阻量測功能

• DCR量測(兩線/四線) 
  Chroma 19036可選擇四線或兩線式直流電阻量測，新型式設計接口提供10通道四線直流電阻測量，對于馬達及變壓器等多繞組樣品提供高準 確度量測，其量測范圍從0.1mΩ ~500kΩ。
• 直流電阻平衡判定 (DCR Balance) 
  三組繞線馬達的直流電阻不平衡時，易導致旋轉不平衡，長期使用后會造成品質不良。直流電阻平衡功能將繞組的zui大zui小值相減，若超過設定 值范圍即為不良品，是馬達類產品長期可靠度測試的輔助工具。
• 溫度補償功能(Temp Compensation) 
  當量測較小的直流電阻值時，常會遇到溫差所造成的問題。當量測時的溫度不同時，量測的阻值也會不同。因此 19036 加入了溫度補償功能 (Temp Compensation)，經由溫度系數的轉換，將直流電阻換算為標準溫度下量測的值，減少溫度差異造成的影響。

• 接觸檢查功能 
  高速(su)接(jie)觸(chu)(chu)(chu)(chu)檢查 High Speed Contact Check (HSCC) 電氣(qi)安規測(ce)試(shi)回路(lu)若(ruo)發生(sheng)開路(lu)，不(bu)良(liang)品(pin)會誤(wu)判為(wei)良(liang)品(pin)導致測(ce)試(shi)失敗 ; 若(ruo)發生(sheng)短(duan)路(lu)現象，可提早(zao)得知并篩選，減(jian)少對治具設備的傷害(hai)，高速(su)接(jie)觸(chu)(chu)(chu)(chu)檢 查功(gong)能可快(kuai)速(su)掃描待測(ce)物線路(lu)接(jie)觸(chu)(chu)(chu)(chu)是(shi)否正常(chang)，此新(xin)技術可以讓耐壓測(ce)試(shi)前的接(jie)觸(chu)(chu)(chu)(chu)檢查比以往更快(kuai)速(su)完(wan)成， 19036另(ling)具有高頻接(jie)觸(chu)(chu)(chu)(chu)檢查(HFCC) 及開 短(duan)路(lu)偵(zhen)測(ce)OSC(號254135)等(deng)多項接(jie)觸(chu)(chu)(chu)(chu)檢查功(gong)能，可偵(zhen)測(ce)繞組與(yu)鐵芯間(jian)是(shi)否有開路(lu)(接(jie)觸(chu)(chu)(chu)(chu)不(bu)良(liang))或短(duan)路(lu)(待測(ce)物短(duan)路(lu))情形。

  次測項功能 SUB?STEP 
  部分生(sheng)產(chan)廠商常以(yi)并(bing)聯進行耐壓測(ce)(ce)(ce)試(shi)以(yi)提(ti)升生(sheng)產(chan)檢測(ce)(ce)(ce)速度，但并(bing)聯測(ce)(ce)(ce)試(shi)時，無法正確(que)設定電 流上(shang)下限(xian)值，導(dao)致不(bu)(bu)良品(pin)流出; 以(yi)及(ji)不(bu)(bu)良品(pin)需至后(hou)測(ce)(ce)(ce)站另加(jia)(jia)進行測(ce)(ce)(ce)試(shi)，增加(jia)(jia)站數及(ji)成本。 19036系列提(ti)供(gong)次(ci)測(ce)(ce)(ce)項(xiang)功(gong)能(sub-step)。當生(sheng)產(chan)需要并(bing)聯測(ce)(ce)(ce)試(shi)時，經由程序(xu)的編輯(ji)，以(yi)不(bu)(bu)良 (Fail)做(zuo)為(wei)次(ci)測(ce)(ce)(ce)項(xiang)啟動條件(jian)。意指(zhi)當測(ce)(ce)(ce)試(shi)于主測(ce)(ce)(ce)項(xiang)(并(bing)聯)不(bu)(bu)良時，才(cai)會進行次(ci)測(ce)(ce)(ce)項(xiang)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(單顆(ke))， 即可判斷出不(bu)(bu)良品(pin)為(wei)哪(na)一顆(ke)待(dai)測(ce)(ce)(ce)物(wu)，可達到高產(chan)速與高檢測(ce)(ce)(ce)品(pin)質之(zhi)*化。

  人體保護電路 GFI 
  Chroma 19036擁有GFI人體(ti)保(bao)護(hu)(hu)功能來保(bao)護(hu)(hu)測試人員。在(zai)突(tu)發人體(ti)感電的情(qing)形(xing)下，GFI 能夠立 即切(qie)斷(duan)儀器之(zhi)電壓(ya)輸(shu)出(chu)，保(bao)護(hu)(hu)操作員不受電氣傷(shang)害(hai)。GFI 功能以偵測從(cong)地端(Earth GND)流回 之(zhi)電流(Ioperator)與LOW端電流(Idevice)，比較后若大(da)于0.5mA，則會在(zai)立即切(qie)斷(duan)電壓(ya)輸(shu)出(chu)。

  

   產品應用

  旋轉電機元件：△ / Y馬(ma)(ma)達(da)、風(feng)扇(shan)、轉子(zi)/ 定子(zi) 從電動(dong)車(che)主馬(ma)(ma)達(da)、伺服(fu)器馬(ma)(ma)達(da)、揚升馬(ma)(ma)達(da)與風(feng)扇(shan) 等所有旋(xuan)轉電機類產品(pin)(pin)，其制程中會進行脈沖測(ce) 試(shi)(shi) 、耐壓測(ce)試(shi)(shi)及直流阻抗量測(ce)等測(ce)試(shi)(shi)來確(que)保產 品(pin)(pin)品(pin)(pin)質。并參考(kao)JB/T 7080國標機械行業標準執 行測(ce)試(shi)(shi)。19036之(zhi)直流電阻量測(ce)上可進行四(si)線式(shi) 量測(ce)，單端點包(bao)含(han)Drive和Sense共(gong)10組獨立通道(dao) 讓您可以(yi)一(yi)次(ci)掃(sao)描測(ce)試(shi)(shi)三顆待測(ce)物，提高生產產 能。每(mei)個通道(dao)可分別設(she)定為高壓輸出/參考(kao)端/關 閉。

  Y型馬達測試說明，測試項目為:  - HSCC / OSC  - DCR Test  - Impulse Test  - Hi-pot –Sub step test
  △與Y型馬達繞組  針對△型與Y型馬達繞(rao)組(zu)(無中心抽(chou)頭式)無法直 接進行(xing)直流電阻量測的(de)問(wen)題， Chroma 19036 具(ju)有馬達繞(rao)線電阻計算功能， 經計算后(hou)得 到R1,R2,R3的(de)數值。
  40通道掃描測試  A190359掃描器提供16個測試通道，每個通道 都可設定為H(高壓輸出)，L(參考點)或是Off(不 設定)。19036與A190359組合可應用于多PIN或 少量多樣型之待測物 以及cell單元式產線，單 站完成所有測試。