更新時間:2017-08-16
致茂Chroma 11050-30M 高頻LCR表。測試參數: L/C/R/Z/Y/DCR/Q/D/ θ測試頻率: 20Hz ~ 10MHz測試電壓: 10mV ~ 1V基本準確度: 0.1%15ms 快速量測3 種輸出阻抗模式測試訊號監測功能比較與分類選別功能開短路與載入補償功能量測、顯示單元分離式設計標準的Handler、RS-232C、USB儲存(cun)與外部重迭(die)電流控制
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致茂Chroma 11050-30M 高頻LCR表
11050 series | 高頻 LCR 表 | |
11050 | 高頻 LCR 表 (1kHz~10MHz) | |
11050-5M | 高頻 LCR 表 (60Hz ~ 5MHz) | |
11050-30M | 高頻 LCR 表 (75kHz ~ 30MHz) | |
A110501 | 四端 SMD 測試盒 | |
A110211 | 測試治具 (DIP) | |
A110234 | 高頻測試線 (1m) | |
A133509 | GPIB & Handler 介面卡 | |
A133510 | LAN & USB-H 介面卡 | |
B110500 | High Frequency Extension Test Lead for Automation (BNC to SMA, 1m) |
簡要介紹
致茂Chroma 11050-30M 高頻LCR表為一提供被動元(yuan)件量(liang)測(ce)(ce)(ce) 評(ping)估解(jie)決方案(an),兼具(ju)精準(zhun)與快速(su)兩大特色(se)的(de)精密 測(ce)(ce)(ce)試(shi)儀器。量(liang)測(ce)(ce)(ce)項目涵蓋(gai)電(dian)感、電(dian)容(rong)、電(dian)阻、 品質因素(su)、損耗(hao)因素(su)等各(ge)種被動元(yuan)件測(ce)(ce)(ce)試(shi)所需(xu)的(de) 主(zhu)、副參(can)數。從(cong)20Hz到10MHz的(de)寬廣測(ce)(ce)(ce)試(shi)頻率(lv) 范圍,適合分析被動元(yuan)件于不同頻率(lv)下的(de)特性(xing)(xing)。 0.1%的(de)基本(ben)量(liang)測(ce)(ce)(ce)準(zhun)確度,讓量(liang)測(ce)(ce)(ce)結果不只是呈 現高穩定(ding)性(xing)(xing),還具(ju)備(bei)高可靠性(xing)(xing)。只需(xu)15ms的(de)快 速(su)量(liang)測(ce)(ce)(ce),可搭配自動化機臺,有效率(lv)地大幅(fu)提高 產量(liang)。
除(chu)了(le)具備Chroma LCR表一貫的(de)(de)優(you) 異量(liang)測(ce)(ce)性能(neng)之外,也(ye)繼承了(le)各種(zhong)便利的(de)(de)功(gong)能(neng)設(she) 計。三種(zhong)不(bu)同的(de)(de)輸(shu)出阻抗模式(shi),滿足使用者對(dui)于 量(liang)測(ce)(ce)結果與(yu)其他儀(yi)器的(de)(de)匹配(pei)需(xu)求。彈性的(de)(de)顯示(shi)位 數設(she)定,可(ke)依使用者對(dui)于量(liang)測(ce)(ce)解(jie)析(xi)度的(de)(de)需(xu)求,調 整成(cheng)適合的(de)(de)顯示(shi)方式(shi)。測(ce)(ce)試訊號的(de)(de)監(jian)測(ce)(ce)功(gong)能(neng),可(ke) 以即時觀察待測(ce)(ce)物上實(shi)際承載的(de)(de)電壓與(yu)電流大 小。觸發(fa)延遲、量(liang)測(ce)(ce)延遲與(yu)平均次數等(deng)時序設(she) 定,讓量(liang)測(ce)(ce)能(neng)緊(jin)密(mi)配(pei)合自動化機臺動作(zuo),并(bing)在有(you) 限的(de)(de)量(liang)測(ce)(ce)時間內取得(de)zui精(jing)確的(de)(de)量(liang)測(ce)(ce)結果。
Chroma 11050-5M在外型結構上(shang)采單元分(fen)離式設 計,利用(yong)雙CPU分(fen)別處理量(liang)測(ce)與顯示,不但能提 高量(liang)測(ce)的(de)速度,應用(yong)于自動(dong)化(hua)機臺上(shang)時也能夠縮 短測(ce)試線的(de)長度,強化(hua)高頻量(liang)測(ce)的(de)精準度。-
Chroma 11050-5,M 的(de)另一大特色是(shi)完善的(de)介(jie)面配(pei) 置。標(biao)準配(pei)備的(de)介(jie)面包含(han)了(le)可(ke)供軟硬體設(she)定(ding)量(liang)測 條件、觸(chu)發(fa)量(liang)測動作、判定(ding)量(liang)測結(jie)果與(yu)搜(sou)集(ji)量(liang)測 數據的(de)Handler與(yu)RS-232C介(jie)面,與(yu)可(ke)儲存(cun)儀器設(she) 定(ding)的(de)USB儲存(cun)介(jie)面、可(ke)直接控制Chroma直流(liu)重迭(die) 電源(yuan)輸出的(de)外部(bu)重迭(die)電流(liu)介(jie)面。選購配(pei)備的(de)部(bu)分 則可(ke)依使(shi)用(yong)者在軟體通訊(xun)上的(de)需求,選購GPIB或 LAN介(jie)面。
致茂Chroma 11050-30M高頻LCR表功(gong)率(lv)電(dian)感由于(yu)攜帶型電(dian)子通訊(xun)產品薄型化(hua)與低(di)(di)功(gong) 耗的(de)(de)設計取向,測試頻(pin)率(lv)逐漸(jian)提高,連帶使元 件的(de)(de)等(deng)效串(chuan)聯(lian)電(dian)阻值成為(wei)影響產品優(you)劣的(de)(de)重要指 標(biao)。緩(huan)沖電(dian)容扮演決定整體電(dian)路信賴性(xing)的(de)(de)重要角 色,為(wei)了能(neng)在頻(pin)繁承載瞬態(tai)高壓(ya)的(de)(de)環境下持(chi)(chi)續正 常工作,必須(xu)于(yu)高頻(pin)時仍保(bao)持(chi)(chi)極(ji)低(di)(di)的(de)(de)等(deng)效串(chuan)聯(lian)電(dian) 阻值。因此(ci)Chroma 11050 在設計開發時特別關(guan)注被動元件在高頻(pin)領域的(de)(de)測試應用,以貼近使用 者的(de)(de)實(shi)際(ji)需求,提升關(guan)鍵的(de)(de)量測功(gong)能(neng)。其于(yu)低(di)(di)阻 抗量測的(de)(de)準(zhun)確度強化(hua),可大幅強化(hua)其在高頻(pin)量測 應用的(de)(de)實(shi)用性(xing)。
藉由(you)全面(mian)性的設計考量與重點式(shi) 的功(gong)能強化,不論是(shi)在產品(pin)特性研發分析、自(zi)動 化產線快速(su)測試或是(shi)各式(shi)零件進出料(liao)管理,都是(shi) *的解決方(fang)案。
Chroma 11050-30M 高頻LCR表 產品特點
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Chroma 11050-30M 高頻LCR表 產品細節圖
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Chroma 11050-30M 高頻LCR表 訂購信息
11050 series | 高頻 LCR 表 | |
11050 | 高頻(pin) LCR 表 (1kHz~10MHz) | |
11050-5M | 高頻(pin) LCR 表 (60Hz ~ 5MHz) | |
11050-30M | 高頻 LCR 表 (75kHz ~ 30MHz) | |
A110501 | 四端 SMD 測試盒 | |
A110211 | 測試治具 (DIP) | |
A110234 | 高頻測試線 (1m) | |
A133509 | GPIB & Handler 介面卡 | |
A133510 | LAN & USB-H 介面卡 | |
B110500 | High Frequency Extension Test Lead for Automation (BNC to SMA, 1m) |