MICROTEST益和6371 LCR Meter 100Hz~100kHz。6372 LCR 電(dian)(dian)表儀器具備高精(jing)確度、速(su)度，且經(jing)濟型多(duo)功(gong)能(neng)，能(neng)夠執行的(de)(de)組(zu)件測(ce)試(shi)。同時量測(ce)線(xian)圈之電(dian)(dian)器特性及(ji)溫聲掃描圖形分析，以輕巧(qiao)便利攜帶為設(she)(she)計主軸，方便規(gui)劃廠(chang)房大小與動線(xian)設(she)(she)計。高精(jing)密值的(de)(de)量測(ce)數(shu)據與的(de)(de)功(gong)效，為組(zu)件和材料*的(de)(de)測(ce)試(shi)儀器。支持(chi) RS232、Handler、GPIB PC 聯(lian)機。
MICROTEST益(yi)和6374 LCR Meter 20Hz~100kHz。6374 LCR 電表儀器具備高(gao)精(jing)(jing)確度、速度，且(qie)經濟型多功(gong)能，能夠執(zhi)行(xing)的組件測試(shi)。同時量(liang)(liang)測線(xian)圈之電器特性及溫聲掃描圖形(xing)分析，以輕(qing)巧便利攜(xie)帶(dai)為設(she)(she)計主軸(zhou)，方(fang)便規劃廠房大小與(yu)動(dong)線(xian)設(she)(she)計。高(gao)精(jing)(jing)密值的量(liang)(liang)測數(shu)據與(yu)的功(gong)效(xiao)，為組件和材(cai)料*的測試(shi)儀器。支持 RS232、Handler、GPIB PC 聯機(ji)。
MICROTEST益和(he)6372 LCR Meter 100Hz~200kHz。6373 LCR 電(dian)表儀器(qi)(qi)具備高精確度(du)(du)、速度(du)(du)，且經濟型多功(gong)(gong)能，能夠執(zhi)行的(de)組(zu)件(jian)測試。同時量(liang)測線圈之(zhi)電(dian)器(qi)(qi)特(te)性(xing)及溫聲掃描圖(tu)形(xing)分析，以輕巧便利(li)攜帶為(wei)設(she)計(ji)主軸(zhou)，方(fang)便規劃廠(chang)房大(da)小與動線設(she)計(ji)。高精密值的(de)量(liang)測數據與的(de)功(gong)(gong)效，為(wei)組(zu)件(jian)和(he)材料*的(de)測試儀器(qi)(qi)。支持 RS232、Handler、GPIB PC 聯機。
MICROTEST益和6373 LCR Meter 20Hz~20kHz。6373 LCR 電表儀(yi)器(qi)(qi)具(ju)備高(gao)精確度、速度，且經(jing)濟型(xing)多功能，能夠執(zhi)行(xing)的組件測試。同時量測線(xian)圈之電器(qi)(qi)特性及溫聲掃描(miao)圖(tu)形分析，以輕巧便利攜帶(dai)為(wei)設計主軸，方便規劃廠房(fang)大小與動(dong)線(xian)設計。高(gao)精密值的量測數據與的功效，為(wei)組件和材(cai)料*的測試儀(yi)器(qi)(qi)。支持(chi) RS232、Handler、GPIB PC 聯機。
MICROTEST益和6375 LCR元(yuan)器件(jian)測(ce)(ce)試(shi)器。6375 精(jing)密(mi)型(xing)LCR電表具備高(gao)精(jing)確度、速度，且(qie)經濟型(xing)多(duo)功(gong)能(neng)，能(neng)夠執行的(de)組件(jian)測(ce)(ce)試(shi)。可搭配DC Bias 機型(xing)。人性化操(cao)作接口設計同(tong)步(bu)于趨勢，簡單操(cao)作快(kuai)速導入產線。多(duo)項參數(shu)(shu)同(tong)時測(ce)(ce)是只需一(yi)次(ci)設定，一(yi)次(ci)同(tong)時顯示。高(gao)精(jing)密(mi)值的(de)量測(ce)(ce)數(shu)(shu)據與的(de)功(gong)效，為組件(jian)和材料*的(de)測(ce)(ce)試(shi)儀器。支(zhi)持RS232、Handler、GPIB PC 聯機。
MICROTEST益和6376 LCR元器件測(ce)(ce)試器。6376 LCR 電表儀(yi)器具備高精(jing)確度(du)、速度(du)，且經濟(ji)型多功能，能夠執行的組件測(ce)(ce)試。可搭配DC Bias 機型。人性化操作接口(kou)設計(ji)同步(bu)于趨勢，簡單操作快速導入產線。多項參(can)數同時(shi)測(ce)(ce)是只需一次(ci)設定(ding)，一次(ci)同時(shi)顯示。高精(jing)密值的量(liang)測(ce)(ce)數據與的功效，為組件和材料*的測(ce)(ce)試儀(yi)器。支持 RS232、LAN、USB 、Handler等擴充接口(kou)和
MICROTEST益和(he)(he)6365 LCR元器(qi)件測(ce)試(shi)器(qi)精(jing)(jing)密(mi)型(xing)。6366精(jing)(jing)密(mi)型(xing)LCR Meter具備高精(jing)(jing)確度(du)、速度(du)，且經(jing)濟型(xing)多功能，測(ce)試(shi)頻(pin)率(lv)范圍從(cong)(cong)10Hz~500KHz，6365A，測(ce)試(shi)頻(pin)率(lv)范圍從(cong)(cong)0.1Hz~500KHz。小(xiao)量測(ce)頻(pin)率(lv)可達0.1Hz。新一代LCR Meter和(he)(he)舊一代LCR Meter差別(bie)在于量測(ce)速度(du)更快和(he)(he)精(jing)(jing)準度(du)都更上一層樓
MICROTEST益和6366 LCR元器件測(ce)(ce)試器精(jing)密型(xing)(xing)。6366精(jing)密型(xing)(xing)LCR Meter具備(bei)高精(jing)確度(du)(du)、速度(du)(du)，且(qie)經濟型(xing)(xing)多功能，測(ce)(ce)試頻(pin)率范圍(wei)從(cong)(cong)10Hz~500KHz，6365A，測(ce)(ce)試頻(pin)率范圍(wei)從(cong)(cong)0.1Hz~500KHz。小量測(ce)(ce)頻(pin)率可達0.1Hz。新一(yi)(yi)代LCR Meter和舊一(yi)(yi)代LCR Meter差(cha)別在于量測(ce)(ce)速度(du)(du)更快和精(jing)準度(du)(du)都更上一(yi)(yi)層樓(lou)
MICROTEST益(yi)和6367 LCR元器(qi)件(jian)測(ce)試(shi)器(qi)精密型(xing)。6367精密型(xing)LCR Meter具備(bei)高精確度、速度，且經濟型(xing)多功(gong)能(neng)，測(ce)試(shi)頻(pin)(pin)率(lv)范圍從(cong)(cong)10Hz~1MHz，6367A，測(ce)試(shi)頻(pin)(pin)率(lv)范圍從(cong)(cong)0.1Hz~1MHz。小量測(ce)頻(pin)(pin)率(lv)可達0.1Hz。新一(yi)(yi)代(dai)LCR Meter和舊一(yi)(yi)代(dai)LCR Meter差別(bie)在于(yu)量測(ce)速度更(geng)(geng)快(kuai)和精準度都更(geng)(geng)上一(yi)(yi)層樓。LCR 電表精準度可到±0.08。
MICROTEST益和6630 LCR表Meter 10Hz~10MHz。6630E 經(jing)濟型 LCR 電(dian)表，測試(shi)(shi)頻率(lv)范(fan)圍為AC 10Hz-10MHz, 可(ke)(ke)以進(jin)行(xing)交流信(xin)號的LCR測試(shi)(shi)，測試(shi)(shi)頻率(lv)和測試(shi)(shi)級別可(ke)(ke)進(jin)行(xing)連(lian)續變化的階(jie)段測量。可(ke)(ke)在不同測試(shi)(shi)、模式條件下、進(jin)行(xing)高速地連(lian)續測試(shi)(shi)，并支援RS232、USB 和 GPIB PC 連(lian)線能力 （ LAN 預留）。
