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Chroma 3380真無線藍芽耳機測試解決方案

更新時間:2020-03-21

簡要描述:

Chroma 3380真(zhen)無線藍芽耳(er)機(ji)測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)解(jie)決(jue)方(fang)案(an)。為(wei)因(yin)應未(wei)來(lai)IC晶(jing)片腳(jiao)位數更(geng)(geng)(geng)多、速率更(geng)(geng)(geng)高、整(zheng)合功能更(geng)(geng)(geng)為(wei)復雜的(de)發展驅勢,Chroma以此發展方(fang)向提(ti)供新一代3380系列VLSI測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)機(ji)臺,包(bao)含3380D、3380P、3380機(ji)型,根(gen)據不同的(de)腳(jiao)位數或并(bing)行測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(Parallel Test),提(ti)供需求與成本效益兼具的(de)測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)解(jie)決(jue)方(fang)案(an)。此系列機(ji)型之一的(de)VLSI測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)系統3380,具有(you)zuigao1280數字通(tong)道管腳(jiao)、

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Chroma 3380真無線藍芽耳機測試解決方案

      為(wei)(wei)因應未來IC晶片(pian)腳位(wei)數更多、速率更高、整合功能更為(wei)(wei)復雜的(de)發(fa)(fa)展驅勢,Chroma以此發(fa)(fa)展方向提供新(xin)一代(dai)3380系列(lie)VLSI測試機臺(tai),包含3380D、3380P、3380機型,根(gen)據不同的(de)腳位(wei)數或并行測試(Parallel Test),提供需求(qiu)與成(cheng)本效益兼具(ju)的(de)測試解決方案。

     此系列機(ji)型之一的(de)(de)VLSI測(ce)試(shi)(shi)系統3380,具有(you)zuigao1280數(shu)字通道管腳、256 VI、彈性(xing)化(hua)架構(gou)、以及完整(zheng)選項功能(neng)板(ADDA/Hi-voltage DPS)等特色;可(ke)符合高同測(ce)的(de)(de)市場驅勢,具備1024數(shu)字通道管腳可(ke)并行測(ce)試(shi)(shi)1024個晶(jing)片的(de)(de)能(neng)力。除了*的(de)(de)4-wire高密度(du)IC電源(yuan)(VI source)外(wai),彈性(xing)化(hua)可(ke)調(diao)整(zheng)的(de)(de)架構(gou)還(huan)可(ke)提供Mini & Macro LED驅動IC、CMOS影(ying)像(xiang)感測(ce)器(CIS)、及3D影(ying)像(xiang)測(ce)試(shi)(shi)等解決方案(an);以利涵蓋(gai)更(geng)廣泛的(de)(de)IC測(ce)試(shi)(shi)功能(neng)與應(ying)用范圍。

Chroma 3380真無線藍芽耳機測試解決方案主要特色:

  • 50/100 MHz 測試頻率
  • 50/100 Mbps 數據速率
  • 1024 數字通道管腳 (可以測到1280 數字通道管腳)
  • 高達1024 sites 并行測試
  • 32/64/128 pattern 記憶體
  • 16M capture memory per pin
  • 多樣化 VI 電源
  • 彈性化硬體架構 (可互換式 I/O, VI, ADDA)
  • Real parallel trim/match 功能
  • 時序頻率測試單位 (TFMU)
  • 高速時序測試單位 (HSTMU)
  • 支援STDF工具
  • 測試program/pattern轉換器 (J750, D10, S50/100, E320, SC312, V7, TRI-6036等)
  • AD/DA功能板卡 *可選配
  • SCAN向量存儲深度(zui高 2G bits/chain) *可選配
  • ALPG 測試功能可供記憶體IC用 *可選配
  • CRAFT C/C++ 程式語言
  • 軟件介面與3380P/3360P相同
  • 人性化的 Windows 7操作系統

    Chrom3380VLSI測(ce)(ce)試系(xi)統可無縫接軌3380D(256pins)與(yu)3380P(512pins),以因(yin)應更高(gao)的產能(neng)需(xu)求。 3380系(xi)列VLSI測(ce)(ce)試系(xi)統無論在裝機、穩定度(du)、友善使用介(jie)面、及成本效益上,長期以來皆已于中國(guo)市(shi)場(chang)獲得廣泛印證。

應用范圍

  • 微控制器單元 (MCU)
  • ADC/DAC混合信號IC
  • 邏輯IC
  • ADDA
  • ALPG
  • Smart card
  • Mini & Macro LED驅動IC
  • CMOS影像感測器 (CIS)
  • 電源IC (Class D IC)
  • 消費性IC
  • LED驅動IC

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