FLUKE福祿克451P-RYR電離(li)室巡檢儀.451P型(xing)號 451P-RYR型(xing) 451P標準電離(li)室。 451P-YGG型(xing) 451P標準電離(li)室。 451P-DE-SI-RYR 451P劑量(liang)當量(liang)電離(li)室。 451P-DE-SI-YGG 451P劑量(liang)當量(liang)電離(li)室。
Chroma 3680真無線藍(lan)芽耳機(ji)(ji)(ji)測試解決(jue)方案(an)(an)。為因應未來IC晶片腳(jiao)位數更(geng)多、速率更(geng)高、整合(he)功能更(geng)為復(fu)雜的(de)發(fa)展驅勢，Chroma以(yi)此發(fa)展方向提供(gong)新一(yi)代3380系列VLSI測試機(ji)(ji)(ji)臺，包含3380D、3380P、3380機(ji)(ji)(ji)型，根據不同的(de)腳(jiao)位數或并行測試（Parallel Test），提供(gong)需求(qiu)與成本效益兼具的(de)測試解決(jue)方案(an)(an)。此系列機(ji)(ji)(ji)型之一(yi)的(de)VLSI測試系統3380，具有(you)zuigao1280數字通道管腳(jiao)、
Chroma 3380真無線藍(lan)芽耳機(ji)測(ce)(ce)試解決方(fang)案(an)。為(wei)因應未來IC晶片(pian)腳位數更多、速率(lv)更高、整(zheng)合(he)功能更為(wei)復雜的(de)發(fa)展驅(qu)勢，Chroma以此(ci)發(fa)展方(fang)向(xiang)提供新一代3380系(xi)列(lie)VLSI測(ce)(ce)試機(ji)臺(tai)，包(bao)含(han)3380D、3380P、3380機(ji)型，根據不同的(de)腳位數或(huo)并行測(ce)(ce)試（Parallel Test），提供需求(qiu)與成本效益(yi)兼具(ju)的(de)測(ce)(ce)試解決方(fang)案(an)。此(ci)系(xi)列(lie)機(ji)型之一的(de)VLSI測(ce)(ce)試系(xi)統(tong)3380，具(ju)有zuigao1280數字通道管(guan)腳、
ASD920X快(kuai)充多協(xie)議(yi)智能(neng)電(dian)源/負(fu)載測試儀。ASD920多協(xie)議(yi)智能(neng)電(dian)源（以下簡稱智能(neng)電(dian)源）集快(kuai)充電(dian)源和(he)快(kuai)充負(fu)載于一(yi)(yi)體，輸(shu)(shu)入和(he)輸(shu)(shu)出(chu)均支持QC和(he)PD協(xie)議(yi)，同一(yi)(yi)通道可一(yi)(yi)鍵(jian)(jian)切換電(dian)源和(he)負(fu)載狀態，無(wu)需更(geng)換設備連(lian)接。電(dian)源輸(shu)(shu)出(chu)電(dian)壓(ya)和(he)負(fu)載輸(shu)(shu)入電(dian)壓(ya)（CV）或電(dian)流（CC）可編輯輸(shu)(shu)入或一(yi)(yi)鍵(jian)(jian)快(kuai)捷選擇，可通過觸壓(ya)旋鈕快(kuai)速微調。
昂盛達ASD906A模(mo)擬(ni)電(dian)(dian)池(chi)測(ce)試儀。ASD906A模(mo)擬(ni)電(dian)(dian)池(chi)具有充放電(dian)(dian)功能，可(ke)模(mo)擬(ni)20V 10A的電(dian)(dian)池(chi)，大充電(dian)(dian)20V 10A， 大放電(dian)(dian)20V 10A，并可(ke)作為六位半電(dian)(dian)流表測(ce)試PCBA的靜態(tai)電(dian)(dian)流。
昂盛達ASD906A模(mo)擬(ni)(ni)電池(chi)(chi)快充綜合測試儀。ASD906A模(mo)擬(ni)(ni)電池(chi)(chi)具有充放電功能，可模(mo)擬(ni)(ni)20V 10A的電池(chi)(chi)，大(da)充電20V 10A， 大(da)放電20V 10A，并可作(zuo)為六位半電流(liu)表測試PCBA的靜(jing)態電流(liu)。
昂(ang)盛達ASD928雙(shuang)路QC,PD的(de)快充測(ce)試(shi)(shi)儀(yi)。產品(pin)簡介： ASD928 雙(shuang)通道 QC 快充.PD 雙(shuang)向(xiang)綜(zong)合(he)測(ce)試(shi)(shi)儀(yi)主要用于快充移動電(dian)源、PD 雙(shuang)向(xiang)移動電(dian) 源、PD 適配器、USB 插座(zuo)等 PCBA 和(he)成(cheng)品(pin)的(de)功(gong)能(neng)測(ce)試(shi)(shi)、性能(neng)評估。 該儀(yi)器共有 10 個(ge) GX20 航空座(zuo)輸出端口，其中內部(bu)集(ji)成(cheng)了: 可(ke)編(bian)程 20V10A 模擬(ni)電(dian)池; 可(ke)編(bian)程雙(shuang)向(xiang) PD.QC 電(dian)源模塊〔可(ke)作為電(dian)源或(huo)者負載而且都支持 QC、PD
供應昂盛達ASD9024 4路快充多協議(yi)(yi)智能負(fu)載(zai)。ASD902系(xi)列多協議(yi)(yi)智能負(fu)載(zai)由(you)負(fu)載(zai)儀及安卓操作終端兩部(bu)(bu)分組成(cheng)，主(zhu)要用于(yu)移動電(dian)源、適配器等外接電(dian)源 PCBA和成(cheng)品(pin)(pin)的(de)功(gong)能檢測(ce)、參數測(ce)試(shi)及性能評估。負(fu)載(zai)儀內部(bu)(bu)集成(cheng)一(yi)個或(huo)多個獨立的(de)可編程多協議(yi)(yi)電(dian)子負(fu)載(zai)模塊，均支持普通(tong)模式，快充 QC2.0及PD 協議(yi)(yi)， 單臺設(she)備可完(wan)成(cheng)產品(pin)(pin)PCBA 或(huo)成(cheng)品(pin)(pin)輸出負(fu)載(zai)的(de)絕大部(bu)(bu)分功(gong)能測(ce)試(shi)，測(ce)試(shi)快充時無需誘騙器等各類設(she)備。
昂盛達ASD9024 4路快(kuai)(kuai)充多(duo)(duo)協(xie)議智(zhi)能(neng)負載(zai)。ASD902系列多(duo)(duo)協(xie)議智(zhi)能(neng)負載(zai)由(you)負載(zai)儀(yi)及安卓(zhuo)操作終(zhong)端(duan)兩部分組成(cheng)，主要用于移動電(dian)源、適配(pei)器(qi)等外(wai)接電(dian)源 PCBA和(he)成(cheng)品(pin)的(de)功能(neng)檢測(ce)、參(can)數測(ce)試(shi)及性能(neng)評估。負載(zai)儀(yi)內部集成(cheng)一(yi)個或多(duo)(duo)個獨立的(de)可(ke)編(bian)程多(duo)(duo)協(xie)議電(dian)子負載(zai)模塊，均支(zhi)持普通模式，快(kuai)(kuai)充 QC2.0及PD 協(xie)議， 單臺設備(bei)可(ke)完成(cheng)產(chan)品(pin)PCBA 或成(cheng)品(pin)輸出負載(zai)的(de)絕大(da)部分功能(neng)測(ce)試(shi)，測(ce)試(shi)快(kuai)(kuai)充時無需誘騙器(qi)等各類設備(bei)。
供(gong)應昂盛達ASD9022雙(shuang)路快(kuai)充負(fu)(fu)(fu)(fu)載(zai)(zai)測(ce)試(shi)儀。ASD902系列多協(xie)(xie)議智能(neng)負(fu)(fu)(fu)(fu)載(zai)(zai)由負(fu)(fu)(fu)(fu)載(zai)(zai)儀及安卓操作終端兩(liang)部分組(zu)成(cheng)，主(zhu)要(yao)用于移動電源、適配器(qi)等外接電源 PCBA和(he)成(cheng)品的功能(neng)檢測(ce)、參數測(ce)試(shi)及性能(neng)評估。負(fu)(fu)(fu)(fu)載(zai)(zai)儀內部集成(cheng)一(yi)個或多個獨(du)立的可編(bian)程多協(xie)(xie)議電子負(fu)(fu)(fu)(fu)載(zai)(zai)模(mo)塊，均支持(chi)普通模(mo)式(shi)，快(kuai)充 QC2.0及PD 協(xie)(xie)議， 單(dan)臺設備可完成(cheng)產品PCBA 或成(cheng)品輸(shu)出負(fu)(fu)(fu)(fu)載(zai)(zai)的絕大部分功能(neng)測(ce)試(shi)，測(ce)試(shi)快(kuai)充時(shi)無需誘(you)騙(pian)器(qi)等各類設備。
