更新時間:2018-09-05
禾苗E8-SPR RoSH鹵素檢(jian)測(ce)儀能(neng)量色散光譜儀。HeLeeX E8-SPR是一(yi)款專門RoHS檢(jian)測(ce)儀器,其核心光路系(xi)統集合國內外幾(ji)十(shi)年(nian)EDXRF*技術(shu),核心部件(jian)(jian)采用美(mei)國進口(kou),軟(ruan)件(jian)(jian)算(suan)法采用美(mei)國EDXRF前沿技術(shu),儀器所用標(biao)準樣品均有第三方檢(jian)測(ce)機(ji)構(gou)報告;HeLeeXE8精密(mi)度高(gao)、準確(que)度、檢(jian)出限等技術(shu)參(can)數全面超過(guo)國內外同類儀器。
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禾苗E8-SPR RoSH鹵素檢測儀能量色散光譜儀
又稱Rosh檢測儀,X熒光光譜儀,專業鍍層測試儀,能量色散光譜儀,光譜儀,鍍層測試儀等只是稱呼變化,其實HeLeeX E8-SPR是一款專門(men)RoHS檢(jian)(jian)測儀(yi)器(qi)(qi),其(qi)核心(xin)(xin)光路系(xi)統(tong)集合國(guo)(guo)內外幾十(shi)年EDXRF*技(ji)術(shu),核心(xin)(xin)部件(jian)采用美國(guo)(guo)進口,軟件(jian)算(suan)法(fa)采用美國(guo)(guo)EDXRF前沿技(ji)術(shu),儀(yi)器(qi)(qi)所用標準樣品均有權威第(di)三方檢(jian)(jian)測機構報(bao)告;HeLeeXE8精密(mi)度(du)(du)高(gao)、準確度(du)(du)、檢(jian)(jian)出限等技(ji)術(shu)參數全面(mian)超過國(guo)(guo)內外同類(lei)儀(yi)器(qi)(qi)。
應用領域:
●各種(zhong)電子電器產品RoHS檢測
●鹵(lu)素檢(jian)測
●鍍層厚(hou)度分析
RoHS檢測儀器探測器
● 類(lei)型:X-123 Si-PIN探測(ce)器(采用*高性能電致冷(leng)半導體探測(ce)器)
● Be窗厚度:1mil
● 晶體面積:25mm2
● 分辨(bian)率(lv):145eV
RoHS檢測儀器X射線管
● 電 壓 :0~50kV
● 最大電(dian)流(liu) :2.0mA
● 最大(da)功率(lv) :50W
● 靶 材 :Mo
● Be窗厚度 :0.2mm
● 使用壽命(ming) :大(da)于2萬小時
1.1輻射防護
1.2多規格樣品倉
1.3 X-Ray探測器
HeLeeX E8-SPR采用美(mei)國完整版(包括探(tan)頭、前置(zhi)放(fang)大器、主放(fang)大電路、數字多(duo)道分(fen)析器全部*)*一體(ti)(ti)式X-123半(ban)導(dao)體(ti)(ti)X射線探(tan)測(ce)(ce)器,其先進(jin)的(de)半(ban)導(dao)體(ti)(ti)制冷(leng)技(ji)術,高峰背比(信噪比),超(chao)(chao)高計數率,優(you)越(yue)的(de)分(fen)辨率和穩定(ding)性以(yi)及高集成化等特點,超(chao)(chao)越(yue)其他品牌(pai)或同品牌(pai)的(de)組(zu)裝探(tan)測(ce)(ce)器。
1.4多種規格測試光斑
Ø HeLeeX E8-SPR采用(yong)模(mo)塊化(hua)分體式X射(she)線準(zhun)直器(qi)技術,根據用(yong)戶需(xu)求,可快速配置Φ0.1mm、Φ0.3mm、Φ0.7mm、Φ1.2mm、Φ3mm、Φ5mm、Φ7mm準(zhun)直器(qi)。滿足樣(yang)品中不同大小點測試(shi)需(xu)求。
1.5小細節大智慧
禾苗E8-SPR RoSH鹵素檢測儀能量色散光譜儀產品特點:
● 儀(yi)器(qi)(qi)結構(gou)采用人體工程(cheng)學設計,儀(yi)器(qi)(qi)兩側按成人手臂長度(du)設計,方便移動、搬運。
● 上蓋傾斜6度角,寓意對客戶的尊重(zhong)。
● 表面采(cai)用高(gao)檔汽車噴(pen)漆工(gong)藝,采(cai)用寶藍、雅致白搭配(pei),藍色代(dai)表科技,白色代(dai)表圣潔,寓意對(dui)科學的(de)敬仰(yang)。
輻射防(fang)護:
● 樣品蓋鑲(xiang)嵌鉛板(ban)屏蔽X射線。
● 輻射標志(zhi)警示。
● 迷宮式結(jie)構(gou),防止射(she)線泄漏。
● 安全連鎖設計;測(ce)試過程中誤打(da)開樣品蓋時,電路(lu)0.1μS快速切斷X射(she)線。
● 儀器經權(quan)威第(di)三方檢測,X射線(xian)劑量率*符(fu)合GB18871-2002《電離輻(fu)射防護與輻(fu)射源安全基本標準》。
硬件技術(shu):
● 超(chao)短光路設計:提(ti)高(gao)無(wu)鹵(lu)檢測分(fen)辨率(lv)(lv),提(ti)高(gao)樣品分(fen)析效率(lv)(lv),降低(di)光管功(gong)率(lv)(lv),延長儀器使(shi)用壽(shou)命。
● 模塊化準直(zhi)(zhi)器,根據分(fen)析(xi)元(yuan)素(su),配(pei)備不同(tong)材質準直(zhi)(zhi)器,從而降低(di)準直(zhi)(zhi)器對(dui)分(fen)析(xi)元(yuan)素(su)的影響,提高(gao)元(yuan)素(su)分(fen)辨率。
● 空(kong)氣動力學設計,加速光管冷卻,有效降低儀(yi)器(qi)內(nei)部溫度(du);靜音設計。
● 電路系統符合(he)EMC、FCC測試標準。
● 快拆樣品盤,更換薄(bo)膜更方便(bian)。
軟件技術:
●分析元素:Na~U之間元素。
● 分析時間:60~400秒。
● 配置RoHS檢測分(fen)析模型,無鹵分(fen)析模型。
● 軟件(jian)界面(mian)簡(jian)潔,模塊化設計,功能清晰,易操(cao)作。
● HeLeeX ED Workstation V3.0軟件擁有(you)數據(ju)一鍵備份,一鍵還原(yuan)功(gong)能,保(bao)護用戶數據(ju)安全。
● HeLeeX ED Workstation V3.0根據不同(tong)基體(ti)樣(yang)品(pin),配備三種算法,增加樣(yang)品(pin)測試(shi)精準度。
● HeLeeX ED Workstation V3.0配備開放式分(fen)析模型功能,客(ke)戶建立(li)自己的工作模型。
高壓電源
● 輸(shu)出電壓(ya):0~50kV
● 燈絲(si)電流:0~2mA
● 最大(da)功(gong)率:50W
● 紋波(bo)系(xi)數:0.1%(p-p值)
● 8小時穩定(ding)性(xing):0.05%
攝像頭
● 微焦距
● 免驅動(dong)
● 500萬像素
準直器、濾光片
● 快(kuai)拆卸準直器、濾光(guang)片系統(tong)
● 多種(zhong)材質準直器
● 光(guang)斑大小Φ0.3mm、Φ0.7mm、Φ1.2mm、Φ2.0mm、Φ5.0mm、Φ7.0mm可(ke)選(xuan)
●多種(zhong)濾光片、準(zhun)直器組合(he),軟件自動(dong)切換(huan)
● 外形(xing)尺寸 :380 mm x 510mm x 365 mm (長(chang)x寬(kuan)x高)
● 樣品倉尺寸 :360mm×330 mm ×50 mm (長x寬x高(gao))
● 儀器重量 :33.5kg
● 供電(dian)電(dian)源 :AC220V/ 50Hz
● 最大功(gong)率 :330W
● 工作溫度 :15-30℃
● 相對濕度 :≤85%,不結露
其他配件
●進口高性能(neng)開關電(dian)源
●進口低(di)噪聲、大風(feng)量(liang)風(feng)扇